Наблюдения за осадками сооружений

Для случая, когда на одном и том же объекте приходится выполнять разные по точности наблюдения за осадками различных по чувствительности к деформациям сооружений, проектируют двух- и трехступенчатую схему или несколько не связанных между собой схем, опирающихся на самостоятельный или на один общий исходный репер.

Расчет величины обратного веса в выбранной схеме производят параметрическим, коррелатным способами, а также способом эквивалентной замены.

Рассмотри в общем виде пример расчета необходимой точности измерений для обеспечения заданной точности определения осадок основных сооружений ТЭЦ. Допустим, что в техническом задании точность определения осадок задана величиной mS = 1,0 мм, а, исходя из условий, для производства работ выбран метод геометрического нивелирования.

В сущности задача сводится к определению средней квадратической ошибки единицы веса μ по первой из формул. По величине этой ошибки определяется класс нивелирования или необходимость разработки специальной методики измерений, если она окажется меньше тех ошибок, которые характеризуют известные классы. Поскольку при сравнительно небольших длинах количество станций в ходе значительно, то в качестве единицы веса примем превышение, измеренное на одной станции. Тогда обратный вес нивелирного хода в замкнутом полигоне или между узловыми точками будет равен числу станций n в этом ходе. В примере число станций в ходах показано на схеме (см. рис. 3).

Для определения обратного веса QH наиболее слабо определяемой точкой схемы воспользуемся способом эквивалентной замены. В этом способе применительно к решаемой задаче необходимо путем последовательных преобразований общую схему нивелирных ходов заменить одним эквивалентным ходом, соединяющим искомую точку с исходным репером.

По результатам расчетов обратный вес отметки слабо определяемой точки Е в середине секции 11 – 13 оказался равным QH = 11,9. По формуле (2) с учетом требуемой точности определения осадок mS средняя квадратическая ошибка единицы веса получилась равной μ = 1,0 мм / √2*11,9 = 0,2 мм.

Для обеспечения такой же точности определения превышений на станции необходимо разработать специальную методику высокоточных измерений.